冠亞制冷TES系列熱流儀-準(zhǔn)確控溫的高低溫循環(huán)測試系統(tǒng)，能夠準(zhǔn)確控制熱、冷空氣，應(yīng)用在測試元器件、混合電路、模塊、PCB和裝配。

　　高低溫循環(huán)測試系統(tǒng)采用單壓縮機(jī)技術(shù)，可適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB電路板IC、光通訊（如收發(fā)器transceiver 高低溫測試、SFP光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行IC特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

　　高低溫循環(huán)測試系統(tǒng)產(chǎn)品應(yīng)用：

　　1、測試閃存Flash、UFS、eMMC 、PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、傳感器、小型模塊組件；

　　2、特性分析；

　　3、對設(shè)計的驗證；

　　4、失效分析；

　　5、溫度沖擊測試 ；

　　6、高低溫溫變測試；

　　7、對收發(fā)器 Transceiver 高低溫測試、SFP光模塊高低溫測試；

　　8、其它電子行業(yè)、航空航天新材料、實驗室研究。

　　高低溫循環(huán)測試系統(tǒng)是一款小型溫度測試系統(tǒng)，對所有類型的組件進(jìn)行溫度測試，例如傳感器，光纖收發(fā)器和組件，微波混合器，MCM，PCB或其他類型的電子設(shè)備/非電子零件。

　　高低溫循環(huán)測試系統(tǒng)用于溫度測試，快速熱循環(huán)，和組分，混合，模塊，電路板和其它電子和非電子組件設(shè)備溫度表征在準(zhǔn)確的溫度從-25℃~+200℃。

　　高低溫循環(huán)測試系統(tǒng)可以放置在工程實驗室中工作站測試臺的上方或下方，也可以在生產(chǎn)測試臺上對齊，占地面積小，用于您的溫度試驗和熱調(diào)節(jié)的要求。